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适用于电子元件材料破碎和分散的氧化锆球特征一种高强度、高韧性的氧化锆球，具有优异的耐磨性和耐久性，以及优异的破碎和分散效率。适用于电子元件材料和高性能材料的破碎和分散。还有一种高质量的YTZ®-S。尺寸0.03-25mm，3/8"1...
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日本不同纯度氧化铝球的硬度数据差对比特征具有优异的耐磨性和耐久性，适用于天然原料、氧化铝、电子元件用基材、密封材料等多种粉碎分散球。产品代码◆通用级：HD、HD-11（Al2O393%）◆干燥级：HD-2（Al2O392%）◆高纯度级：SS...
2-21
便携式水果品质无损检验仪应用领域1、采摘水果之前：测定水果的甜度和酸度有利于栽培指导及成熟度的监控，降低果农的风险，减少损失。2、品质生产检测，销售定价评定：每个水果均经过甜酸度的测试，依据质量检测，分级、处理及包装作业，而能提升水果卖价。...
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用于超声波清洗机中的超声波异常监测技术超声波清洗机的超声波清洗机SonicWatcher2B是具有通信功能（蓝牙）的超声波声压计“SonicWatcher2”。“SonicWatcher2B”测量超声波清洗槽中的超声波强度并实时发送数值。“...
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超声波清洗机监测用超声波声压计介绍操作简便的超声波压力表SonicWatcher2（UA-109A-）是一种超声波声压计（超声波测量仪），用于测量超声波清洗层中的超声波强度。通过测量值的自动量程和数字水准算法，即使是对超声波知之甚少的工作人...
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光谱干涉仪技术在薄膜测厚仪上的运用适用于光学薄膜和透明涂膜模型FOS测量方法非接触式/光谱干涉仪测量对象电子、光学用透明平滑膜、多层膜测量原理光谱干涉仪产品特点实现高测量重复性（±0.01μm或更小，取决于对象和测量条件）不易...
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适用于软薄膜的测厚仪介绍模型TOF-C2*TOF-C的后续型号测量方法非接触式/电容式测量对象薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜测量原理电容式产品特点高测量分辨率由于是非接触型，因此非常适合接触型难以测量的薄膜。即使表面状况粗糙，也可以进行...
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高精度塑料薄膜测厚仪需要达到的要求？模型TOF-6R001测量方法接触式/线性量规测量对象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）测量原理线性规产品特点离线轻松快速地测量厚度测量数据实时显示在屏幕上测量数据可以自动保存在个人电脑上由于...
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胶卷/胶片用离线式测厚仪的原理模型TOF-5R01测量方法接触式/线性量规测量对象电影测量原理线性规产品特点离线轻松快速地测量厚度测量数据实时显示在屏幕上测量数据可以自动保存在个人电脑上由于是通过自动运输测量，所以测量数据没有个体差异。也可...
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日本eddio涡流探伤仪技术的运用具有自动探伤功能的低成本涡流探伤仪支持所有探伤线圈和探头的通用涡流探伤仪。仅配备最少的必要功能，可以以低成本实现质量保证。通过简单的界面即可轻松操作。紧凑的尺寸最大限度地减少了安装空间。特征适用于直通线圈、...
